测试区外的白板上，第一壁样件编号从WB-01排到WB-04，WB-01被放进问题样件存放柜，WB-02完成高热流测试后单独封存，WB-03和WB-04则被送到辐照平台，作为主样件与独立对照样件。
罗正则站在辐照平台入口，手里拿着安全检查表，逐项核对屏蔽门、联锁系统、监测探头和应急切断线路。
“辐照源状态。”
设备组工程师打开控制端：“源强校准完成，输出处于待命状态。”
“样件固定。”
“WB-03固定完成，背板温度、结构位移和表面状态三组监测链已接通。”
“人员边界。”
“测试区清场，观察区保留六人，外部终端由安全组独立管理。”
罗正则看向另一侧的苏明哲：“材料组准备好了？”
苏明哲正在查看WB-03的结构扫描图，他将图纸翻到样件边缘位置，确认晶粒分布与弧形过渡区状态后，才把文件递给工程师。
“WB-03结构扫描完成，晶粒控制达到内控要求，边缘和连接面数据纳入辐照前基准。”
罗正则在安全检查表上落下名字：“辐照前基准确认。”
苏明哲走到平台控制台前，按下测试程序，辐照设备的屏幕从待命页切换到多通道监测页，材料活化、表面结构、背板温度和内部应力四组数据各自占据一个窗口。
“第一阶段按设定通量运行，分段采样，材料状态和活化数据一起记录。”
工程师问：“每个阶段结束后暂停复核吗？”
“暂停，核完再继续。”
罗正则补充：“任何一组监测数据越过内控线，安全链先切断，材料组再判断原因。”
“明白。”
苏明哲看了一眼WB-03的固定架：“开始。”
辐照平台启动，屏蔽门闭合，控制室里的红色指示灯转为运行状态，测试区内的设备声被隔在厚重的屏蔽结构之外，主屏上剩一条条不断刷新的数据曲线。
第一阶段通量逐步提升，样件表面温度从二十二点五摄氏度开始变化，背板温度的上升幅度处于控制区间，结构位移数据贴近初始基准。
“第一阶段通量达到。”
“表面温度变化零点四摄氏度。”
“背板温度变化零点二摄氏度。”
“结构位移零点零一毫米。”
苏明哲看着四
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